射线检测仪/α，β辐射表面污染检测仪DP-JB4060

射线检测仪/α，β辐射表面污染检测仪/X、γ辐射剂量率仪  型号;DP-JB4060

DP-JB4060型射线检测仪，适用于α，β辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用口盖革探测器，具有较的探测效率；是环境实验室、核学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等域行α，β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。

 特点

1.        口盖革探测器，探测效率

2.        可测量α、β、γ、X射线

3.        可移动金属屏可在β/γ混合场中用于区分β和γ

4.        便携式，体化，重量轻

5.        单片机控制，软件能强

6.        LCD液晶显示，会话式操作界面

7.        计数率显示CPM、CPS、μSv/h

8.        电池失效报警

主要标

1.        计数范围：1～1000000

2.        探测器：卤素-水淬式盖革-弥勒计数管（口）。有效直径：45mm；

3.        云母薄片密度：1.5-2.0mg/cm2

4.        灵 敏 度：α表面活度响应>1.7s-1Bq-1cm2
β表面活度响应>1.7s-1Bq-1cm2
γ≥500CPM/μSv·h-1（对137Cs）

5.        剂量率范围：0.01～2500.00μSv/h

6.        仪器本底：每分钟计数≤60CPM

7.        相对误差：测量范围内相对基本误差≤15%

8.        供电电源：2节1.5v普通5号电池，整机电流≤50mA

9.        温度范围：-10℃～45℃

10.     湿度范围：相对湿度≤90%（40℃）

11.     尺寸重量：0.7kg;23×13×4.5（cm ）