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低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪

发布时间：2012/5/8点击次数：1386

低阻抗分析仪/表面阻抗测试仪 型号:DP-MCP-T370

四探针方案-触式度的各种材料的表面电阻率测量。
查找只需按下启动按钮，确认自动测量能，可自动保持当前的测量值。
电池寿命可以采用镍氢电池组可以方便地替换。
新增探头校准模式。检查探头校准片（另售），以确认Roresuta AX测试值的准确性。
测量数据可以导出到USB存储器。

 

 

规格
测量方法 四端四探针法
施加恒定电流的方法
测量范围 10 -2〜10 6 Ω
标准配置 四探针探头（ASP）AC适配器 说明书 检查确认书

 

选项
探头选项
类型 适用被测试样品 型号
ESP 对于异类样本 MCP - TP08P
PSP 小样本的薄膜 MCP - TP06P
QPP 对于小样本 MCP - TPQPP
TFP 有关硅晶片或玻璃基板薄膜 MCP - TFP

 

 

校准块 型号：MCP - TRF1

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