为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。

产品型号：DP-LT-100C

更新时间：2016-09-30

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数字式硅晶体少子寿命测试仪型号：DP-LT-100C

为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。

该设备是按照家标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法”。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。

DP-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：

1、可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。

2、可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。

3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。

4、配置两种波长的红外光源：

a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。

b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能级硅晶体。

5、测量范围宽广

测试仪可直接测量：

a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。

b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。

寿命可测范围 0.25μS—10ms

温湿度计

商品名称：数字式干湿温度测试仪/干湿温度测试仪/数字式干湿温度检测仪/数字式干湿温度测定仪
商品型号：DP-JTR15

数字式干湿温度测试仪/干湿温度测试仪/数字式干湿温度检测仪/数字式干湿温度测定仪 型号：DP-JTR15

数字式干湿温度测试仪/干湿温度测试仪/数字式干湿温度检测仪/数字式干湿温度测定仪说明：
DP-JTR15干湿温度测试仪是88858cc永利官网自主开发的度温度测试仪器，可同时测试自然湿温度及空气温度。
应用域：劳动场所监测、公共场所在线测试、环境温度监测、建筑节能、教学实验
数字式干湿温度测试仪/干湿温度测试仪/数字式干湿温度检测仪/数字式干湿温度测定仪特点：
1、可同时测试自然湿温度和空气温度
2、各通道同步采集、自动存储传感器
3、支架可安装在常用三脚架上，解决了现场测试的放置问题
4、不锈钢金属封装温度传感器，测试稳定
5、传感器采用标准插头形式，连接简单
6、软件依据相关标准具有自动统计能
数字式干湿温度测试仪/干湿温度测试仪/数字式干湿温度检测仪/数字式干湿温度测定仪参数：
1、测量范围：-20～85℃
2、测量度：±0.5℃（常温可达±0.2℃）
3、温度分辨率：0.1℃
4、响应时间：<2S
5、存储时间间隔：1—255分钟
6、数据存储量：2000组
7、通讯接口：迷你USB
8、电源：标准9V电池