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方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪

产品简介

DP-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。

产品型号:DP-WSP-51
更新时间:2016-10-09
厂商性质:生产厂家
访问量:1014

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方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪  型号:DP-WSP-51

DP-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。

本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!

仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入;具有零位、满度自校能;自动转换量程;测试探头采用耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。

三、基本参数

1. 测量范围、分辨率

电    阻:     1.0×10-2 ~ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10  Ω

电 阻 率:     1.0×10-3~ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ~ 0.1  Ω-cm

方块电阻:     1.0×10-3 ~ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可测半导体材料尺寸(手持式)

直        径:  测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

长(或)度:  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程划分及误差等级

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本误差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

4) 适配器作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净   重:≤0.5kg

 

 

 

2.

电阻表
 
 
 
商品名称:数字式缘电阻测试仪/数字式兆欧表/兆欧表/缘电阻表
商品型号:DP-DY30-4
 

数字式缘电阻测试仪/数字式兆欧表/兆欧表/缘电阻表 DP-DY30-4

 

量程
基本度
额定作电压
100/250/500/1000V
±(3.0%+5)
缘电阻测试范围
0.001M~2000MΩ
±(3.0%+5)
交流电压
-
自动量程
 
单位符号显示
 
数据保持
 
低电阻蜂鸣显示
 
电压欠压提示
 
电源
1.5V电池×6(UM3)
 
LCDzui大显示
1999
 
LCD视窗尺寸
26×62mm
 
标准包装尺寸
150×100×70mm
 
产品重量
约680克
 

 

 

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